SJT 1145-1993 电容器用有机薄膜电性能试验方法
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ID： |
08CD344F6E754BC29C5100368658173E |
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文件大小(MB)： |
0.32 |
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页数： |
3 |
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文件格式： |
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日期： |
2024-7-28 |
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中华 人民 共和国电子行业标准,SJ/T 1145 -93,包容器用有机薄膜电性能,1工し节?*J^7! Cホ±,Test methods for electrical perf0ダminces,of organic film for use in capacitors,1993-12-17 发布,?r 3*F ?，ew—丒^-―^.T-ii-宀-Irwmrrar4im r丒丒丒u 丒(丒?，丒一丒丒^^11 . f imiiii ■ un\^i 叫.f f11,1994-06-01 实施,中华人民共和国电子工业部发布,中华人民共和国电子行业标准,包容器用有机薄膜电性能SJ/T 1145-93,试验方法通则代替 SJ 1145—77,General rules of test methods for electrical performances,of organic film for use in capacitors,1主题内容与适用范,1.1主题内容,本标准规定了电容器用有机薄膜电性能试验方法中的试样要求、试验条仰:、厚度测定和试,验记录的一般规则,1.2适用范围,本标准适用于电容器用有机薄膜电性能的测试,2试样要求,2.1,2.2,2.3,2.4,取样时沿薄膜横向取所需数量,外表至少去掉三层,取样环境必须保持清洁,取样、剪裁试样或试验时,不允许用手直接接触试样被测试面,试样必须平整、均匀、无伤痕、皱折、孔洞等缺陷,表面不允许有灰尘或其他污物,所取试样应在3. 1条环境条件下预处理24h;被测试膜卷贮存环境与3..!条要求一致,时,可不进行预处理,3试验条件,3t1除非另有规定,试验应在下列环境条件下进行;,温度:23 ± 2c ；,相对湿;に50±5%；,净化度:：1000。。级,注/OfKM）级,即环境中粒度为0. 5Mm以上的灰尘,不多于3500个每立方米.,3.2高綴试验条件（热度）由产品标准规定"当达到试验温度时夹入试样,在规定温度下，保持,后方可进行试验,试验温度误差不超过士,厚度测试要求,原:ケ测出仪的下测量面应是光滑的平面,上测量而是曲率半径为,中华人民共和国电子工业部1993-12 17批准,0),4,1,SJ/T 1145193,■ ^>i—~i 1—r -t 1—I—nTi-ri ji ." ■■ ■,测量面都应抛光一上测量杆的直径不得小于5mm,接触压カ为25.75Pa,4. 2厚度测量仪的最小分度值,对厚度小于或等于5Km的为0. 2*m,大于5Am而小于10仔m,的为0. 5K0!,大于lOptm的为1 ,um0,5检验记录,试验记录应包括下列各项内容キ,.试样名称、型号、规格、批号和生产单位、出厂日期,况 试验项目名称及试验方法标准编号J,c.试验时的环境条件及预处理情况,d.试验仪器;,e.试样的尺寸和数量;,f.试验结果及计算值;,备试验日期和试验员0,附加说明:,本标准由电子工业部标准化研究所归ロ,本标准由铜陵市薄膜电容器总厂负责起草,本标准主要起草人:章晓红、叶立新、周荣,本标准于1977年6月首次发布,XX XX年X月第一次修订,2,4……
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